С 29 по 31 августа 2022 года в онлайн-формате пройдет XXIX Российская конференция по электронной микроскопии. На мероприятии будут рассмотрены современные методы электронной, зондовой микроскопии и комплементарные методы в исследованиях наноструктур и наноматериалов.
Регистрация на онлайн-конференцию: до 1 августа.
Направления Конференции:
- Новые методы просвечивающей/растровой электронной микроскопии, электронной дифракции и микроанализа. Hовые приборы, элементы электронной оптики, детекторы и обработка изображений.
- Крио-ЭМ и применение электронной, конфокальной сканирующей микроскопии в биологии и медицине.
- Электронная микроскопия, электронная дифракция и микроанализ в исследовании новых материалов и процессов.
- Растровая электронная и ионная микроскопия. In-situ исследования в РЭМ.
- Электронная микроскопия в геологии.
- Методы электронной микроскопии и микроанализа в исследовании предметов культурного наследия. Другие применения электронной микроскопии.
- Сканирующая зондовая микроскопия.
- Исследование сверхбыстрых процессов, фемтосекундная микроскопия, динамическая электронная кристаллография.
- Электронная и ионная литография. Микроскопия в современных технологиях.
- Комплементарные методы.
Национальные конференции по электронной микроскопии проводятся Научным советом по электронной микроскопии РАН при участии Института кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН и Института проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН на протяжении более чем 50 лет. Такие национальные конференции стали для российских ученых центральным информационным полем, обеспечивающим знаниями и навыками работы на новом высокотехнологичном оборудовании, научными контактами и способствующими привлечению молодежи.
Регистрация и подробные условия участия на сайте Конференции: https://rcem.info